變壓器有載分接開(kāi)關(guān)測試儀無(wú)繞組測試方式

變壓器有載分接開(kāi)關(guān)測試儀無(wú)繞組測試方式：
將變壓器有載分接開(kāi)關(guān)測試儀測試線(xiàn)黃、綠、紅測試鉗分別接到調壓開(kāi)關(guān)X1（A1）、Y1（B1）、Z1（C1）上，并用短路線(xiàn)分別接到對應的X2（A2）、Y2（B2）、Z2（C2）上，黑色測試鉗接到中性點(diǎn)上，測試線(xiàn)的另一端分別接到儀器對應的端子上。主菜單“參數設置"修改測試方式為“無(wú)繞組"，其余操作步驟同有繞組測試步驟相同。帶繞組測試與不帶繞組測試相比較，前者的動(dòng)作時(shí)間長(cháng)，約3-7 ms。
注意：A、B、C三相動(dòng)觸頭短接后接到儀器的中性點(diǎn)接線(xiàn)端子上。
（3）調壓側繞組Y型接線(xiàn)中性點(diǎn)沒(méi)有引出的變壓器的測試方法
這種結構的試品在不吊芯情況下，中性點(diǎn)無(wú)法引出，只好每?jì)上嘁粶y試，例如測A、B兩相，接線(xiàn)方法如圖12所示，把C相當作中性點(diǎn)， 操作步驟和帶繞組測試方法相同，只是在液晶屏上一次只顯示兩組波形和數據，數據的分析和有中性點(diǎn)引出的變壓器的分析方法相同，只是過(guò)渡電阻值需要換算：設測量值為R’，實(shí)際值為R，則兩相測量時(shí)R＝1/3R’（如單相測量時(shí)則R＝1/2R’）。待A、B相測完以后，可以再把A相當作中性點(diǎn)，測量B、C相，或者把B相當作中性點(diǎn)，測量A、C相。其接線(xiàn)方法和數據分析均相同。

（4）調壓側繞組Δ型接線(xiàn)的變壓器的測試方法：
變壓器有載分接開(kāi)關(guān)測試儀測試接線(xiàn)方法同圖12，操作步驟和數據的分析同其它變壓器測試方法一樣，只是過(guò)渡電阻值需要換算：設測量值為R’ ，實(shí)際值為R，則兩相測量時(shí)R＝R’，單相測量時(shí)R=3/2 R’。
5、 測量開(kāi)關(guān)靜態(tài)參數
可測量開(kāi)關(guān)的靜態(tài)阻值。選擇進(jìn)入“測量開(kāi)關(guān)靜態(tài)參數"菜單，待數值穩定后按“確認"鍵鎖定數值，此時(shí)再按“確認"鍵打印出當前靜態(tài)電阻值。
6、 存儲波形查詢(xún)
可查詢(xún)存儲在U盤(pán)或本機的存儲波形。選擇進(jìn)入“存儲波形查詢(xún)"菜單，此時(shí)按“←→"鍵選擇查詢(xún)對象為U盤(pán)或本機（在選擇“本機波形查詢(xún)"時(shí)，儀器可自動(dòng)顯示出當前的存儲位置有無(wú)波形信息，選擇“U盤(pán)波形查詢(xún)"時(shí)無(wú)此功能），按“↑↓"鍵選擇要查詢(xún)對象的存儲編號，按“確認"鍵調出要查詢(xún)的波形(如有波形，則進(jìn)入到圖7顯示的動(dòng)作波形菜單，如沒(méi)有存儲信息，儀器給予提示)。
7、 時(shí)鐘設置
對儀器的時(shí)鐘進(jìn)行設置。操作方法和“參數設置"菜單類(lèi)似。
8、 通訊設置
儀器升級通訊用(備用，用戶(hù)不可操作)。
9、 廠(chǎng)家設置
廠(chǎng)家對儀器變壓器有載分接開(kāi)關(guān)測試儀進(jìn)行必要的設置(用戶(hù)不可操作)。

七、常見(jiàn)波形分析
1、 輸出電流：1.0A、0.5A、0.3A、三檔可選。

2、 電阻量程：1.0A檔 0.1～10Ω；0.5A檔 5～20Ω；0.3A檔 10～40Ω。

3、 電阻測量精度：±(讀數×5%+5個(gè)字)，分辨率：0.01Ω。

4、 過(guò)渡時(shí)間測量范圍：1～250mS。

5、 過(guò)渡時(shí)間測量精度：±1mS，分辨率：0.1mS。

6、 采樣頻率：10K。

7、 存儲方式： U盤(pán)存儲、本機存儲。

8、 工作溫度：-20℃～+50℃。

9、 環(huán)境濕度：≤90%RH，無(wú)結露。

從圖13可以看出，橋接前時(shí)間過(guò)長(cháng)，已達50ms（是正常時(shí)間的三倍），并且不止是一相，而是三相差不多。這是典型的快速機構儲能彈簧老化，速度變慢

從圖14中可以看到A相從單到雙（3-4）和雙到單（4-3）有對稱(chēng)的過(guò)零段，是在單數側，且過(guò)渡電阻值從儀器上觀(guān)察遠大于20Ω（對于0.5A檔超過(guò)20Ω可以看成開(kāi)路）。這是典型的過(guò)渡電阻缺陷。吊檢后發(fā)現單數側過(guò)渡電阻已斷裂。

圖15中這個(gè)波形是由于開(kāi)始測試時(shí)，測試靈敏度選的比較高，又是由3-2方向（電感量增加）容易引起震蕩。適當降低靈敏度由1-n方向測試結果正常

從圖16中看出，A相波形較亂，測出的過(guò)渡電阻值僅0.3-0.5Ω，而且從1-7均如此。 吊檢發(fā)現A相切換開(kāi)關(guān)引出線(xiàn)軟連接有斷股，造成A相過(guò)渡電阻被短接（未接死）?，F場(chǎng)處理后，波形正常。